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美国dataray,XY扫描狭缝光束分析仪,190nm到1150nm,硅传感器,650nm到1800nm,InGaAs传感器,1000nm到2300nm或2500nm,InGaAs(扩展)传感器,
光束直径为5微米至4mm,在刀刃模式下为2微米,USB2.0端口供电,长度为3米的电缆线,无需外部电源,0.1微米采样和分辨率,
线性和对数X-Y轮廓,质心,轮廓缩放和狭缝宽度补偿,经济并且准确,M2选项,光束传播分析,发散,聚焦,应用领域为激光印刷和打标,二极管激光系统等等,
技术参数,
| 型号 |
S-BR2-Si,Beam'R2 |
| 波长 |
硅传感器:190nm到1150nm,
InGaAs传感器:650nm到1800nm,
Si+InGaAs传感器:190nm到1800nm,
Si+InGaAs(扩展)传感器:190nm到2300nm或2500nm, |
| 扫描光束直径 |
Si检测器:5微米到4mm,到2微米(Knife-Edge模式),
InGaAs检测器:10微米到3mm,到2微米(Knife-Edge模式),
InGaAs(扩展)检测器:10微米到2mm,到2微米(Knife-Edge模式), |
| 束腰直径测量 |
第二矩(4s)直径符合ISO11146,合身的高斯和TopHat 1 /e2(13.5％)宽度,
用户可选的峰值百分比,
Knife-Edge模式,用于非常小的光束, |
| 计量来源 |
CW,脉冲激光器,Φμm≥[500/(PRR以kHz为单位)] |
| 分辨率精度 |
0.1μm或扫描范围的0.05％,
±<2％±=0.5微米 |
| 功率和辐照度 |
总计1W＆0.5mW/μm2 |
| 增益范围 |
1000:1切换,4096:1ADC范围 |
| 显示的图形 |
X-Y位置和轮廓,缩放x1到x16 |
| 更新速率 |
大约5Hz |
| 通过,失败显示 |
屏幕上可以选择通过,失败的颜色 |
| 平均 |
用户可选的运行平均值(1至8个样本) |
| 统计 |
平均值,标准偏差,长时间记录数据 |
| XY轮廓和质心 |
Beam Wander显示和记录 |
| minPC要求 |
Windows,2 GB RAM,USB 2.0,3.0端口 |
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